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      型號:

      瀏覽量:123

      華測絕緣電阻劣化(離子遷移)評估系統配之以高溫高濕試驗箱聯動,可高精度連續監測,高效簡便評估因離子遷移現象引起的壽命及絕緣電阻劣化相關問題。適用標準:JPCA-ET04、IPC-TM-6502.6.3F、IPC-TM-650_2.6.3.1E、IPC-TM-650_2.6.3.4A、IPC-TM-650_2.6.3.6。
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      導通電阻評估系統 可靠性電路測試系統在低溫、高溫的溫度循環環境下,采用4端子測試法對焊點、連接器接點等導體進行多通道高精度微小電阻連續測量,以評估電子裝配與材料的正確性和可靠性。操作軟件可實時自動測量記錄數據,圖表化微小電阻變化及試驗箱溫度變化,更可通過LAN進行數據處理,高效精que在線評估連接可靠性。
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      面對電子產品越來越小型輕量及高密度封裝,因結露吸濕等因素造成的絕緣bu良現象暨離子遷移現象日益突出,絕緣電阻劣化(離子遷移)評估系統配之以高溫高濕試驗箱聯動,可高精度連續監測,高效簡便評估因離子遷移現象引起的壽命及絕緣電阻劣化相關問題。
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